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GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試器
點(diǎn)擊次數(shù):771 更新時(shí)間:2020-06-11

GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試器

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

Loop 測(cè)試

自動(dòng)搜尋IC 編號(hào)功能

開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能

過載保護(hù)功能

可量測(cè)之IC 種類超過1800 種

54/74 系列TTL

4000 及4500 系列CMOS

大可測(cè)Pin 數(shù): 28 Pin

產(chǎn)品敘述

桌上型數(shù)位IC測(cè)試器

GUT-6000B是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化,GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù),減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見的TTL和COMS器件,真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。

產(chǎn)品規(guī)格

 

規(guī)格

測(cè)試范圍

 

54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE

量測(cè)種類

 

約 1800 種

測(cè)試電壓

 

2.5/3.0/3.3/5V DC

測(cè)試時(shí)間

 

高測(cè)試速度,平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC

使用電源

 

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

 

335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm,約 1.5 公斤